Test af små kondensatorer (under 10pF): Da kapacitansen af faste kondensatorer under 10pF er ekstremt lav, giver brug af et multimeter til måling kun mulighed for en kvalitativ vurdering-specifikt, kontrol for lækage, interne kortslutninger eller dielektrisk nedbrud. For at udføre denne test skal du vælge R×10k-området på multimeteret; tilslut de to testprober til kondensatorens to ledninger (i begge rækkefølge). Den målte modstandsværdi skal være uendelig. Hvis der detekteres en endelig modstandsværdi (indikeret ved, at viseren bøjer mod højre), betyder det, at kondensatoren er beskadiget af lækage eller har fået et internt sammenbrud.
Test af faste kondensatorer (10pF til 0,01μF): Disse kondensatorers tilstand bestemmes ved at observere, om der opstår et opladningsfænomen. Til denne test skal du indstille multimeteret til R×1k-området. Denne metode anvender en sammensat transistorkonfiguration; de to anvendte transistorer bør hver have en strømforstærkning (værdi) på 100 eller højere og udvise lav lækstrøm. Siliciumtransistorer-såsom 3DG6-modellen-er velegnede til at konstruere dette sammensatte par. Multimeterets røde og sorte prober er forbundet til henholdsvis den sammensatte transistorens emitter (e) og kollektor (c). Takket være den sammensatte transistorens forstærkende effekt forstærkes opladning og afladning af kondensatoren under test, hvilket resulterer i en større afbøjning af multimeterets viser og gør observationsprocessen meget lettere.
Vigtig bemærkning: Under testproceduren-især ved måling af kondensatorer med mindre kapacitans-er det nødvendigt gentagne gange at vende forbindelserne af kondensatorens ledninger mod punkt A og B for tydeligt at observere afbøjningen af multimeterets viser. For faste kondensatorer med en kapacitans på 0,01μF eller højere, kan multimeterets R×10k-område bruges direkte til at kontrollere tilstedeværelsen af en opladningsproces samt for intern kortslutning eller lækage. Endvidere kan man ved at observere størrelsen af viserens afbøjning til højre estimere kondensatorens omtrentlige kapacitansværdi.